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科目代碼：3603

科目名稱：核輻射探測(cè)學(xué)

一、考試的總體要求

了解輻射與物質(zhì)的相互作用、不同類型的輻射與物質(zhì)相互作用的機(jī)理、重帶電粒子的能量損失率、光子與物質(zhì)的相互作用類型；氣體中離子與電子的運(yùn)動(dòng)規(guī)律、氣體探測(cè)器的基本構(gòu)造、探測(cè)器輸出信號(hào)形成的物理過程、正比計(jì)數(shù)器的工作原理及輸出信號(hào)的相關(guān)特性、G-M計(jì)數(shù)管的工作原理及輸出信號(hào)的相關(guān)特性；閃爍體探測(cè)器的基本工作原理、閃爍體的分類、光電轉(zhuǎn)化及倍增器件的工作原理、閃爍體探測(cè)輸出信號(hào)形成的物理過程及特性、閃爍光子譜學(xué)；半導(dǎo)體探測(cè)器的工作原理、幾種不同類型的半導(dǎo)體探測(cè)器的原理及應(yīng)用；中子與物質(zhì)相互作用的機(jī)理、中子探測(cè)常用的方法及常用的探測(cè)器、中子注量率和中子能譜的測(cè)量；統(tǒng)計(jì)漲落對(duì)探測(cè)器性能的影響、放射性測(cè)量中的統(tǒng)計(jì)誤差、電離過程的漲落和法諾分布。

二、考試的內(nèi)容

1，輻射與物質(zhì)的相互作用：帶電粒子與靶物質(zhì)原子的碰撞過程、重帶電粒子在物質(zhì)中的能量損失率與Bethe公式、快電子的能量損失率、光子與物質(zhì)的相互作用類型及比較。

2，氣體探測(cè)器：氣體中離子與原子的運(yùn)動(dòng)規(guī)律、電離室的結(jié)構(gòu)和輸出信號(hào)形成的物理過程、電離室的類型、正比計(jì)數(shù)器的工作原理及信號(hào)形成的物理過程、G-M計(jì)數(shù)管的工作原理和輸出信號(hào)的特性。

3，閃爍探測(cè)器：閃爍探測(cè)器的基本結(jié)構(gòu)和工作原理、閃爍體的發(fā)光機(jī)制和物理特性、閃爍體的類型、光電轉(zhuǎn)化及倍增器件的工作原理、閃爍探測(cè)器的輸出回路及信號(hào)形成的物理過程、閃爍gamma譜學(xué)。

4，半導(dǎo)體探測(cè)器：半導(dǎo)體探測(cè)器的主要特征和優(yōu)點(diǎn)、半導(dǎo)體材料的性質(zhì)、不同半導(dǎo)體探測(cè)器（PN結(jié)型、高純鍺型和PIN型）的工作原理，輸出信號(hào)形成機(jī)制及應(yīng)用。

5，中子及中子探測(cè)：中子的分類及中子源、中子與物質(zhì)的相互作用、中子探測(cè)常用的方法及常用的探測(cè)器、中子能譜的測(cè)量。

6，輻射探測(cè)中的統(tǒng)計(jì)學(xué)：放射性計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)分布、輻射探測(cè)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)誤差及誤差傳遞、電離過程中的漲落分布。

三、考試的題型

考試題型主要包括：填空題、簡(jiǎn)答題和計(jì)算題。

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