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命題方式 | 招生單位自命題 | 科目類別 | 初試 |
滿分 | 150 | ||
考試性質 | |||
初試 | |||
考試方式和考試時間 | |||
閉卷, | |||
試卷結構 | |||
考試內容和要求 | |||
(一)控制系統(tǒng)的數學描述 | |||
1.時域微分方程:典型物理系統(tǒng)的微分方程;非線性系統(tǒng)的線性化; | |||
2.頻域描述:系統(tǒng)的傳遞函數定義、性質;典型環(huán)節(jié)的傳遞函數; | |||
3.動態(tài)結構圖:結構圖的建立與化簡;Mason(梅遜)公式及其綜合應用; | |||
4.一般反饋系統(tǒng):一般系統(tǒng)的典型結構和基本關系;自動控制理論中的基本控制作用(環(huán)節(jié)); | |||
(二)控制系統(tǒng)的時域分析 | |||
1.時域分析的一般方法:基本信號及系統(tǒng)的一般響應以及其物理意義;控制系統(tǒng)的主要性能指標; | |||
2.一階系統(tǒng)分析:一階系統(tǒng)在典型信號作用下的響應特征; | |||
3.二階系統(tǒng)分析:二階系統(tǒng)的數學模型;二階系統(tǒng)的單位階躍響應特征,欠阻尼下的性能指標;二階系統(tǒng)的其它響應特征;了解二階系統(tǒng)響應特性的改善方法; | |||
4.高階系統(tǒng)分析:高階系統(tǒng)時域響應的分量結構及意義;閉環(huán)極點與主導極點;高階系統(tǒng)的二階近似; | |||
5.控制系統(tǒng)的穩(wěn)定性分析:系統(tǒng)穩(wěn)定的基本概念;系統(tǒng)穩(wěn)定的充分必要條件;Routh判據及幾種情況分析、Hurwitz判據和Lienard-Chipard判據一般了解;; | |||
6.控制系統(tǒng)的誤差分析:控制系統(tǒng)誤差的概念與穩(wěn)態(tài)誤差的定義及計算;誤差的數學模型與穩(wěn)態(tài)誤差分析;擾動信號誤差分析和穩(wěn)態(tài)誤差的補償; | |||
(三)根軌跡法 | |||
1.根軌跡的基本概念; | |||
2.繪制根軌跡圖的基本法則; | |||
3.控制系統(tǒng)根軌跡的繪制方法及簡單系統(tǒng)的根軌跡草圖繪制; | |||
4.控制系統(tǒng)根軌跡的分析方法,根據根軌跡圖分析系統(tǒng)的性能; | |||
(四)頻率響應法 | |||
1.系統(tǒng)頻率特性的求取方法;典型環(huán)節(jié)的頻率特性; | |||
2.頻率特性函數的圖形:Nyquist圖的粗略繪制與特性;Bode圖的繪制與特性(由系統(tǒng)開環(huán)傳遞函數繪制Bode圖,以及Bode圖寫出系統(tǒng)就、開環(huán)傳遞函數); | |||
3.開環(huán)頻率特性分析,利用開環(huán)Bode圖研究閉環(huán)系統(tǒng)的穩(wěn)定性及其它特性; | |||
4.Nyquist穩(wěn)定判據:Nyquist穩(wěn)定判據及其應用; | |||
(五)控制系統(tǒng)的校正方法 | |||
1.系統(tǒng)校正的概念與結構; | |||
2.根軌跡法校正:改造根軌跡的方法;串聯(lián)校正裝置:微分校正、積分校正、徽分-積分校正的目的和基本思想; | |||
3.頻率法校正:超前校正、滯后校正、滯后超前校正的目的和基本思想; | |||
4.參考模型校正法的基本思想; | |||
5.頻率法反饋校正的基本思想和特點; | |||
6.控制系統(tǒng)結構設計:基于開環(huán)的前置校正結構、擾動補償、輸入補償的基本思想; | |||
(六)非線性系統(tǒng)分析 | |||
1.典型的本質非線性環(huán)節(jié); | |||
2.相平面與相軌跡的基本概念,等傾線作圖法的基本思想;相平面圖的特征和極限環(huán);描述函數法的基本思想,非線性系統(tǒng)的描述函數分析。 | |||
參考教材 | |||
《自動控制原理》孫亮、楊鵬主編 北京工業(yè)大學出版社 2002年第2版 | |||
參考書目 | |||
《自動控制原理》孫亮、楊鵬主編 北京工業(yè)大學出版社 2002年第2版 |
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